다양한 기능을 보유한 경제적인 Table Top SEM 모델 SNE 3200M
15nm의 부해능과 6만배까지 배율 확대 가능한 보급형 table top SEM입니다. 또한 다양한 detector를 통해서 사용자가 보고자 하는 샘플의 표면 형태(SE image) 및 성분(원자번호)에 따른 명암으로 표현되는 이미지(BSE image)를 얻을 수가 있으며 연구개발 및 품질관리, 교육실습 등의 목적으로 사용 가능합니다.
총 3축 구성으로 간편한 샘플 위치 이동과 마우스 조작으로 단순하고 편리하게 작동이 가능합니다. 단계적으로 설정된 scan mode와 measurement tool을 이용하여 다양한 분석결과를 구할 수가 있습니다. 또한 dual view mode를 이용하여 SE/BSE 이미지를 동시에 볼 수 있는 기능이 추가되었습니다.
SE (Secondary Electron)- 2차 전자
요철에 의한 정보로 이미지 형성 주로 표면 현상을 관찰하는 용도로 사용됨
BSE (Back Scattered Electron)- 후방산란 전자
시편을 이루고 있는 성분(원자번호)에 의해 이미지가 표현됨(brightness and darkness)
세련되고 편리한 소프트웨어
마우스 조작으로 단순하고 편리하게 작동이 가능함/Dual View Mode 적용
